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SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀

SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀

SKU: SGWX-4B

產(chǎn)品介紹

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測定。 

技術(shù)參數(shù)

  • 熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
  • 最小讀數(shù)：0.1℃
  • 測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）         ±2℃（在200～300℃時(shí)）
  • 配雙目體視顯微鏡
  • 光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)

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