原子力顯微鏡(AFM)可以做什么?解讀原子力顯微鏡的用途

AFM(原子力顯微鏡)，提供原子或近原子解析度的表面形貌圖像，能夠定量樣品的表面粗糙度到＂Å＂等級。除了提供表面圖像之外，AFM也可以提供形態(tài)的定量測量，如高度差和其他尺寸。另外，磁力顯微鏡（MFM）是AFM一種應(yīng)用，能夠繪製樣品的磁域圖。

AFM分析方法應(yīng)用的案例包括：

• 評估晶片處理前后的差異(SiO2, GaAs, SiGe等)
• 確定生物醫(yī)學(xué)設(shè)備的處理效果(例如電漿處理)，如隱形眼鏡、導(dǎo)管和涂層支架
• 檢查表面粗糙度對附著力的影響
• 評估圖案晶圓的溝槽形狀與清潔度
• 檢查形態(tài)是否是表面陰霾的來源

原子力顯微鏡的應(yīng)用范圍

• 提供三維表面形態(tài)影像，包括表面粗糙度、粒徑大小、高度差和間距
• 其他樣品特性的成像，包括磁場、電容、摩擦力和相位

原子力顯微鏡的應(yīng)用行業(yè)

• 航太工業(yè)
• 汽車
• 生物醫(yī)學(xué)/生物技術(shù)
• 化合物半導(dǎo)體
• 資料存儲
• 國防
• 顯示器
• 電子領(lǐng)域
• 工業(yè)產(chǎn)品
• 照明設(shè)備
• 製藥
• 太陽能
• 聚合物
• 半導(dǎo)體
• 光電行業(yè)
• 電信

產(chǎn)品推薦: FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡 

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