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原子力顯微鏡（環(huán)境控制型）FM-Nanoview EC-AFM

產(chǎn)品介紹

◆ 光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計，功能強大

◆ 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時工作，互不影響

◆ 可同時在普通空氣環(huán)境、液體環(huán)境、溫度控制環(huán)境、惰性氣體控制環(huán)境下工作

◆ 樣品掃描臺和激光檢測頭封閉式設計，內(nèi)部可充放特殊氣體，無需增加密封罩
◆ 激光檢測采用了垂直光路設計，配合氣液兩用型探針架可在液體下工作
◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品

◆ 超高倍光學定位系統(tǒng)，實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
◆ 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%

技術參數(shù)